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主營產(chǎn)品:X射線熒光光譜儀
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日立臺式XRF鍍層測厚儀

型 號FT110A

產(chǎn)品時間2026-07-22

所屬分類臺式測厚儀

訪問量16

產(chǎn)品描述:日立臺式XRF鍍層測厚儀FT110A,旨在應(yīng)對生產(chǎn)中鍍層分析的挑戰(zhàn)。X射線熒光技術(shù)與自動定位功能相結(jié)合,有助于提高電鍍車間的生產(chǎn)力,同時確保組件符合嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品概述

日立臺式XRF鍍層測厚儀FT110A-測量極小目標(biāo)

日立臺式XRF鍍層測厚儀FT110A幫助諸多的行業(yè)確保符合電鍍規(guī)范,以避免出現(xiàn)性能低下的風(fēng)險(xiǎn)以及與廢料或返工相關(guān)的成本。此外,該儀器可減少一系列測量所需的時間,從而幫助提高生產(chǎn)力。

        在任何質(zhì)量保證或質(zhì)量控制系統(tǒng)中,準(zhǔn)確性和可靠性均至關(guān)重要,擁有改良的X射線熒光技術(shù)的FT110A將使您的產(chǎn)品滿足最高標(biāo)準(zhǔn)的行業(yè)規(guī)范要求。

        借助更新的成像系統(tǒng)、全新的自動測量定位功能和大型樣品臺,確保這臺鍍層分析儀易于使用并提高分析效率。

         基于 Windows 系統(tǒng)的X-ray Station軟件提供直觀的用戶界面,用戶可對該儀器進(jìn)行全面控制。

        通過將數(shù)據(jù)直接整合到MicrosoftTM Word和Excel中來簡化您的質(zhì)量保證/質(zhì)量控制流程。

為何如此多的實(shí)驗(yàn)室改為使用FT110A?

1.快速分析

         高靈敏度分析組件可以在數(shù)秒內(nèi)測量鍍層厚度和成分。

2.無損

         X射線熒光是無損分析過程,不留任何痕跡。即使是對敏感性材料,其測量也是安全的;同時無需丟棄被測量過的樣品。

3.提高生產(chǎn)力

        FT110A的自動化功能意味著您可以更快地準(zhǔn)備和測量樣品,從而提高您的分析量。

4.多功能性

         FT110A可以分析多達(dá)四層鍍層和基材。可以使用基本參數(shù)(FP)或經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)來測量鍍層和材料成分(如金屬合金或電鍍液)。

5.易于使用

        培訓(xùn)可輕松完成,因此任何人都可以操作FT110A。只需在工作臺上設(shè)置樣品,借助友好的界面指定測量區(qū)域,然后開始記錄讀數(shù)。用戶界面可配置為僅顯示日常操作所需的功能。

6.兼容性

        測量方法符合標(biāo)準(zhǔn)ISO3497、日立高新技術(shù)ASTMB568和DIN50987。

精確性和靈活性

FT110A擁有一系列標(biāo)準(zhǔn)功能,能夠以快速性和簡便性測量鍍層厚度,其配置滿足高要求的應(yīng)用。

特點(diǎn)

多準(zhǔn)直器組件-0.1和0.2毫米雙準(zhǔn)直器是標(biāo)準(zhǔn)配置,可靈活處理不同尺寸的零件。

廣泛的分析范圍-可確定從鈦(22)到鈾(92)等元素的鍍層厚度。

校準(zhǔn)和FP方法-使用經(jīng)驗(yàn)和基本參數(shù)方法來確定薄膜厚度和成分。

大型測量室尺寸-FT110A可容納尺寸高達(dá)500x400x150毫米且重量達(dá)到10kg的樣品。

一鍵式測量-使用中心搜索功能進(jìn)行簡化的自動測量意味著幾乎任何人都可以測試樣品。

可選件

四準(zhǔn)直器組件-通過加入0.05毫米和0.025x0.4毫米準(zhǔn)直器,F(xiàn)T110A的多功能性得以顯著提升。

廣視角相機(jī)-獲取樣品的鳥瞰圖,然后快速放大您選擇的測試區(qū)域。

自動對焦功能-無論樣品厚薄或大小如何,F(xiàn)T110A都可在幾秒鐘內(nèi)自動對樣品進(jìn)行對焦??蓮倪h(yuǎn)至80毫米3.1英寸)的距離測量樣品,非常適合測量具有凹陷區(qū)域的零件,或者適用于測量不同高度的多個樣品。

圖像處理軟件-使用圖案識別軟件快速的對復(fù)雜樣品進(jìn)行分析。操作員只需將測量區(qū)域放入視域,軟件就會自動進(jìn)行位置微調(diào)。

日立臺式XRF鍍層測厚儀


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